影响镀层测厚仪测量值精度的5大因素,你知道几个?

　　镀层测厚仪是对加工业和精细工业产品表层进行准确测量使产品的质量达到高品质的重要设备手段，我国为了使我们的产品能够有化的水准，于是对测厚仪都提出了非常明确高指标的要求，以此来规范的避免影响测厚仪测量的因素，下面小编来给大家介绍一下影响测厚仪测量的因素究竟有哪些。

　　

　　影响镀层测厚仪测量的因素有哪些

　　

　　1、基体金属的选择

　　

　　基体金属的选择于试件的测试是息息相关的，首先专业的镀层测厚仪分有磁性方法和涡流方法，两种方法对于测厚仪的基体金属标准片都有不一样的磁性和电性要求，必须要对号入座的进行测量匹配，并且基体金属的厚度对于我们的测量也有一定的影响。

　　

　　2、测试时的环境和条件

　　

　　测厚仪一的测试本身是非常方便的，它的出现很大程度上提高了我们对于产品测量的效率，但是我们在测量的时候需要注意到测量的环境以及必要的测量条件，首先我们需要注意测量时周围的磁场环境，磁场过高或不稳定都会对我们的测量数据产生影响，其次潮湿的环境也是不利于我们的测量，而基体金属标准片与试件本身的一些条件也会影响到我们的测量数据，例如测厚仪基体金属片表层的粗糙程度等等。

　　

　　3、边界距离：当探头与被测样品边界、孔眼、空腔、其他截面变化出的距离小于规定的边界距离时，由于涡流载体截面不够将产生测量误差。所以，在靠近被测样品边缘或内转角处进行测量是不可靠的。如果必须测量该点的覆层厚度时，需预先在相同条件的无覆层表面进行校准。

　　

　　4、表面粗糙度：粗糙的表面会导致系统误差，对于粗糙的表面应进行多点多次测量，然后取平均值以获得较客观的数据。基体金属和覆盖层的粗糙度越大，对测量结果的影响也越大，因此要使基体的平均粗糙度Ra应小于覆层厚度的5%。

　　

　　5、测量时的一些其它影响因素

　　

　　我们在进行测量的时候要注意到试件表面要保持清洁不能有异物遮挡，并且即便是可信赖的镀层测厚仪在测量时也都容易受到一些突然变化的影响所以我们要避免在试件的曲面和边缘进行测量。

　　

　　我们选择到了一个高品质的度量测厚仪并不意味着我们的测量数据就会一定的准确，因为在测量过程中总会有一些细微的影响因素需要我们去注意，只有处理好这些影响因素才会使我们的镀层测厚仪能够发挥出其应有的作用。